前言：晶圆，涡流法、方阻，电阻率，硅片，迁移率，少子寿命
涡流法是一种非破坏性检测技术,其原理是基于涡流感应现象。当交变电流通过导体时,会在导体周围产生一个交变磁场,这个磁场会在导体表面产生涡流。涡流会使得导体表面产生一个磁场,这个磁场可以被探测器检测到。
产品广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司先进计量分析测试技术，为晶圆、碳化硅、硅片、氮化镓、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪。